環(huán)境試驗箱箱體采用數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方并采用無反作用把手，操作簡便。適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫環(huán)境下、檢驗其各項性能指標。
 

　　環(huán)境試驗箱的試驗范圍：
 

　　(1)低壓(高空)試驗：試驗適用于在飛機貨艙中空運的兵器，在高原上使用的兵器和空運兵器在飛機受傷后發(fā)生壓力迅速下降的情形。試驗的目的是檢驗兵器在低壓環(huán)境中的使用性能以及壓力迅速下降對兵器性能的影響。
 

　　(2)高溫試驗：試驗中兵器處于高溫空氣中，但不受到陽光直接照射。試驗針對高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動機等熱源處儲藏或使用兵器的情形。僅當太陽輻射試驗不能檢驗高溫效應時才進行這項試驗。試驗的目的是檢驗在高溫環(huán)境中儲藏或使用的性能。
 

　　(3)低溫試驗：試驗適用于在壽命周期中很可能在低溫環(huán)境中使用的試件。試驗的目的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制和作戰(zhàn)。
 

　　(4)熱沖擊試驗：試驗適用于在預定的使用區(qū)域或使用模式中經(jīng)常經(jīng)受極迅速溫度變化的兵器。進行熱沖擊試驗的目的是檢驗環(huán)境溫度驟然變化對兵器性能的影響。
 

　　(5)太陽輻射(日照)試驗：這是一項對暴露在陽光下的兵器及其制造材料進行的試驗。太陽輻射可引起光化學效應和熱效應。在大多數(shù)情況下，這項試驗可以代替高溫試驗。通過日照試驗可檢驗太陽輻射對兵器或有關材料的使用或露天存儲的影響。